• ホーム
  • ブログ
  • ホーム
    • 膜厚測定の必要性
    • 測定事例・導入実績
      • ハードコート膜(HC)
      • 反射防止膜(AR)
      • 酸化膜Sio2
      • レジスト膜
      • ポリイミド(PI)
      • ポリエチレンフィルム(PE)
      • ポリウレタンフィルム(PU)
      • ITOガラス基板
    • 製品紹介
      • AFW-100W
      • AFW-100W-NIR
      • AFW-100BX
      • 反射分光式膜厚計仕様比較
    • レンタル・受託
      • 当社レンタルサービスが選ばれる理由
      • レンタルのご案内
      • レンタル申込書
      • 受託測定のご案内
      • 受託測定申込書
    • 技術資料
      • 用語集
      • 膜厚計の種類・特長
      • 反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
      • 光学測定に関するJIS規格一覧
      • 屈折率一覧
    • コラム
      • デフォーカス依存について
      • CCDセンサーとCMOSセンサー
    • お問合せ・FAQ・DL
      • お問合せ先・お問合せフォーム
      • FAQ
      • ダウンロードコンテンツ
  • ブログ
  • 膜厚測定の必要性
  • 測定事例・導入実績
  • 製品紹介
  • レンタル・受託
  • 技術資料
  • コラム
  • お問合せ・FAQ・DL
  • 用語集
  • 膜厚計の種類・特長
  • 反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
  • 光学測定に関するJIS規格一覧
  • 屈折率一覧
膜厚計をもっと簡単に、
膜厚測定をもっとわかりやすく
  1. ホーム
  2. 技術資料
  3. 屈折率一覧

屈折率一覧

屈折率

文章作成中


  • 膜厚測定の必要性
  • 製品紹介
  • 技術資料
  • お問合せ・FAQ
  • 測定事例・導入実績
  • レンタル・受託
  • コラム

プライバシーポリシー | サイトマップ
Copyright © 2009-2023 ASUMI GIKEN, Limited All Rights Reserved.
ログアウト | 編集
  • トップへ戻る