ホーム
ブログ
ホーム
膜厚測定の必要性
測定事例・導入実績
ハードコート膜(HC)
反射防止膜(AR)
酸化膜Sio2
レジスト膜
ポリイミド(PI)
ポリエチレンフィルム(PE)
ポリウレタンフィルム(PU)
ITOガラス基板
製品紹介
AFW-100W
AFW-100W-NIR
AFW-100BX
反射分光式膜厚計仕様比較
レンタル・受託
当社レンタルサービスが選ばれる理由
レンタルのご案内
レンタル申込書
受託測定のご案内
受託測定申込書
技術資料
用語集
膜厚計の種類・特長
反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
光学測定に関するJIS規格一覧
屈折率一覧
コラム
デフォーカス依存について
CCDセンサーとCMOSセンサー
お問合せ・FAQ・DL
お問合せ先・お問合せフォーム
FAQ
ダウンロードコンテンツ
ブログ
膜厚測定の必要性
測定事例・導入実績
製品紹介
レンタル・受託
技術資料
コラム
お問合せ・FAQ・DL
用語集
膜厚計の種類・特長
反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
光学測定に関するJIS規格一覧
屈折率一覧
膜厚計をもっと簡単に、
膜厚測定をもっとわかりやすく
ホーム
技術資料
技術資料
技術資料
本項では膜厚計に関係した用語、膜厚測定のロジック他、関連した資料を載せています。用語の意味や膜厚測定の
仕組み、その他
技術的な情報が必要な方は
ぜひご覧ください。
用語集
膜厚計の種類・特徴
測定原理・仕組みについて
光学測定関連JIS規格
屈折率一覧
膜厚測定の必要性
製品紹介
技術資料
お問合せ・FAQ
測定事例・導入実績
レンタル・受託
コラム
トップへ戻る