型式 | AFW-100W | |
用途 | 一般膜厚用 | |
装置構成 | ユニット本体、測定スタンド、2分岐ファイバー(1.5m)、PC、膜厚測定サンプル | |
測定波長範囲 | 380nm~1050nm | |
膜厚測定範囲 |
100nm~1μm(カーブフィッティング法) |
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1μm~60μm(FFT法) |
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計測再現性 |
0.2%~1%(膜質依存による) |
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測定スポット径 |
約7mm |
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光源 |
12V-50W ハロゲン |
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測定理論 |
カーブフィッティング法 / FFT法 |
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外形寸法 (mm) |
測定スタンド |
W150×D150×H115 |
本体 |
W230×D230×H135 |
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概算重量 |
5.5kg ※PCを除く |
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ユーティリティ |
AC100V 50/60Hz |
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消耗品 |
ハロゲンランプ |
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定価 |
¥3,300,000- (別途消費税) |
●C/F(カーブフィッティング、Curve Fitting)
測定された反射率と理論値の反射率の
差の二乗が最も小さくなる膜厚値を
求めます。
波形が3個以下(膜厚1μm程度)の時の
使用を推奨。
●FFT(高速フーリエ変換、Fast Fourier Transform)
ある波長幅に膜厚を示す干渉波形が
何個あるかをFFT計算により求め、
これから1周期の波長幅が導かれる。
波形が3個以上(膜厚1μm程度)の時の
使用を推奨。