• ホーム
  • ブログ
  • ホーム
    • 膜厚測定の必要性
    • 測定事例・導入実績
      • ハードコート膜(HC)
      • 反射防止膜(AR)
      • 酸化膜Sio2
      • レジスト膜
      • ポリイミド(PI)
      • ポリエチレンフィルム(PE)
      • ポリウレタンフィルム(PU)
      • ITOガラス基板
    • 製品紹介
      • AFW-100W
      • AFW-100W-NIR
      • AFW-100BX
      • 反射分光式膜厚計仕様比較
    • レンタル・受託
      • 当社レンタルサービスが選ばれる理由
      • レンタルのご案内
      • レンタル申込書
      • 受託測定のご案内
      • 受託測定申込書
    • 技術資料
      • 用語集
      • 膜厚計の種類・特長
      • 反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
      • 光学測定に関するJIS規格一覧
      • 屈折率一覧
    • コラム
      • デフォーカス依存について
      • CCDセンサーとCMOSセンサー
    • お問合せ・FAQ・DL
      • お問合せ先・お問合せフォーム
      • FAQ
      • ダウンロードコンテンツ
  • ブログ
膜厚計をもっと簡単に、
膜厚測定をもっとわかりやすく

    サイトマップ

    • ホーム
      • 膜厚測定の必要性
      • 測定事例・導入実績
        • ハードコート膜(HC)
        • 反射防止膜(AR)
        • 酸化膜Sio2
        • レジスト膜
        • ポリイミド(PI)
        • ポリエチレンフィルム(PE)
        • ポリウレタンフィルム(PU)
        • ITOガラス基板
      • 製品紹介
        • AFW-100W
        • AFW-100W-NIR
        • AFW-100BX
        • 反射分光式膜厚計仕様比較
      • レンタル・受託
        • 当社レンタルサービスが選ばれる理由
        • レンタルのご案内
        • レンタル申込書
        • 受託測定のご案内
        • 受託測定申込書
      • 技術資料
        • 用語集
        • 膜厚計の種類・特長
        • 反射分光式膜厚計の測定原理・仕組
        • 光学測定に関するJIS規格一覧
        • 屈折率一覧
      • コラム
        • デフォーカス依存について
        • CCDセンサーとCMOSセンサー
      • お問合せ・FAQ・DL
        • お問合せ先・お問合せフォーム
        • FAQ
        • ダウンロードコンテンツ
    • ブログ

    ブログ

    • 2021年10月04日 - 年末年始のお知らせ(2021)
    • 2021年01月08日 - 緊急事態宣言発令に伴う当社の対応について(令和3年)
    • 2020年06月16日 - 来社対応再開のお知らせ
    • 2020年05月26日 - 緊急事態宣言解除後の対応について
    • 2020年04月30日 - 膜厚計コラム、始めました。不定期更新ですが、よろしくお願います。
    • 2020年04月27日 - ゴールデンウィーク休暇のお知らせ(2020)
    • 2020年04月07日 - 緊急事態宣言に伴い、テレワークを導入致します。
    • 膜厚測定の必要性
    • 製品紹介
    • 技術資料
    • お問合せ・FAQ
    • 測定事例・導入実績
    • レンタル・受託
    • コラム

    プライバシーポリシー | サイトマップ
    Copyright © 2009-2025 ASUMI GIKEN, Limited All Rights Reserved.
    ログアウト | 編集
    • トップへ戻る